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March 3rd, 2009
(PhysOrg.com) --(瑞典)Uppsala 大學的研究者在電子顯微鏡的幫助下,以空前的解析度,首度在新材料中定量測量磁特性。這項突破背後的祕密一項成功的電子顯微鏡技術精心之作。這些發現,發表在 Physical Review Letters 上,意味著在所有電磁材料中所伴隨的能量喪失最終能被最小化。
隨著電子元件急速地微型化,需要新方法來分析原子層次上的材料特性。在 2006 年一篇科學文章證明有可能利用一種稱為電子磁圓二色性(Electron Magnetic Circular Dichroism,EMCD,電子磁圓偏振二向性)的技術,使用穿透式電子顯微鏡(TEM)來研究某一材料的磁特性。當不同的材料結合後,通常在薄薄的單層原子薄膜中,會創造出令人振奮的新磁特性。這是一種有趣的研究領域,例如,運用在硬碟中。今日的科學家主要是在超昂貴的同步輻射光源幫助下研究磁特性,相較之下 EMCD 針對每一層,提供了一種更便宜且更詳細(可達 1 奈米)的磁特性研究。
到目前為止僅證明 EMCD 可用在定性上。Uppsala 大學研究者更進一步將此技術精緻化,讓它也能夠定量測量樣本的磁力。
"這意味著我們能得到樣本的磁性強度,那是了解各種材料如何交互作用的關鍵," Klaus Leifer 說,工程科學系實驗物理教授。
在結合了實際實驗與理論計算之後,測量 EMCD 訊號的方法現已最佳化,而且實驗資料的電腦處理方法也進一步被開發。這篇文章是涉及材料理論、物理材料合成以及實驗物理學的合作成果。
這些發現對於我們利用設備,那是今日大多數電子顯微鏡實驗室中的標準,來分析某材料之磁特性的能力而言,很重要。
"對於發生在發電機與變壓器磁元件中之能量喪失,這項技術也將增強我們在這方面的知識," Klaus Leifer 說。
※ 相關報導:
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http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.102.037201
Hans Lidbaum, Jan Rusz, Andreas Liebig, Bjorgvin Hjorvarsson,* 研究:磁性在壓力下喪失
Peter M. Oppeneer, Ernesto Coronel, Olle Eriksson, and
Klaus Leifer
Phys. Rev. Lett. 102, 037201 (2009) [4 pages]
doi: 10.1103/PhysRevLett.102.037201
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